I-Scan VersaTek™
Cartographie de pression haute performance
Le système I-Scan VersaTek pousse la mesure matricielle à son maximum pour la recherche avancée et l'industrie. Cette architecture offre une vitesse d’acquisition élevée et une connectivité avancée pour saisir les phénomènes dynamiques les plus complexes.
- Vitesse jusqu'à 20 kHz : Enregistrez les impacts et transferts de charge ultra-rapides en combinant l'électronique VersaTek au capteur 9550.
- Grands formats sans compromis : Compatible avec les capteurs I-Scan associant haute résolution spatiale et grande surface active.
- Triggering par connecteurs BNC In/Out : Synchronisez et déclenchez l'acquisition avec vos autres instruments de mesure sur banc d'essais.
- Mesure non-intrusive : Exploite les capteurs fins et flexibles (>0,2 mm) de Tekscan.
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Chaque situation d'application est unique. Nous configurons votre solution (matériel, logiciel, financement, ...) selon vos besoins et contraintes pour vous garantir un retour sur investissement optimal.
Spécifications & Contextes d'Utilisation
Optimisez et personnalisez votre système I-Scan
Au-delà du logiciel et des capteurs de pression I-Scan, maximisez le potentiel de vos campagnes de mesures grâce à laux d'outils matériels et logiciels dédiés. Qu'il s'agisse de maintenir une précision de mesure optimale, d'automatiser vos acquisitions ou d'intégrer vos données à vos propres environnements de développement, ces solutions étendent les capacités de votre système de cartographie de pression.
- Équilibrateurs : Garantissez la précision et prolongez la durée de vie de vos capteurs.
- Module ASR : Automatisez vos captures en série pour les essais de longue durée.
- SDK Tekscan : Pilotez l'électronique et intégrez la mesure à vos processus industriels.
- DRT Tekscan : Automatisez la lecture et l'extraction de vos fichiers de données .FSX.
Caractéristiques Techniques
| Contenu du kit | Logiciel I-Scan + 1 à 8 électroniques VersaTek filaires ou 1 à 2 électroniques VersaTek sans fil + Capteurs I-Scan |
|---|---|
| Compatibilité | Windows 10/11 |
| Connexion | USB / WiFi |
| Température de fonctionnement | -10 à 60 °C (capteurs standards) ou -40 à 200 °C (capteurs haute température) |
| Précision | ± 5% |
| Échantillonnage | jusqu'à 20 kHz |
| Sortie | FSX (format propriétaire) + CSV |
| Alimentation | 230 Vac / Batterie Li-ion |
| Informations complémentaires | Visualisations cartes et barycentre, graphiques (histogrammes + courbes temporelles) et mesures temps réel + post-traitement (forces, pressions, surfaces totales et par zones) - enregistrement de clichés et séquences dynamiques |
| Options | APIs, entrées tensions analogiques, ASR (enregistrements séquentiels automatisé) |
Informations Complémentaires
Documentation & Supports Techniques
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Mescan X Tekscan
Leader mondial de la cartographie de pression dynamique, Tekscan développe une technologie de capteurs matriciels brevetée, reconnue pour sa capacité à quantifier les contraintes d'interface avec une précision et une résolution spatiale exceptionnelles. Mescan vous offre un accès exclusif à la technologie Tekscan avec la garantie d'un service de proximité et d'une expertise métier reconnue.
Distribution Exclusive
Produits associés
I-Scan Evolution
La référence en cartographie de pression dynamique
Le système I-Scan Evolution associe une électronique USB évolutive à des capteurs tactiles ultra-fins (< 0,2 mm) pour mesurer et analyser en temps réel la répartition des contraintes entre deux surfaces. Idéal pour les essais mécaniques dynamiques (jusqu'à 100 Hz), il offre une résolution spatiale élevée (248 points/cm²) et une mesure non intrusive, préservant le comportement des interfaces.
Polyvalence : Compatible avec 200+ capteurs de pression + 1 capteur de température (jusqu'à 200°C en option).
Logiciel intuitif : Visualisation 2D/3D, export CSV, et interface moderne (I-Scan 9) pour une analyse optimisée.
Applications : Contrôle qualité, R&D, tests de freinage, ergonomie (sièges, matelas), ou validation de processus industriels.
I-Scan Lite
La cartographie de pression accessible et essentielle
Le système I-Scan Lite est la solution idéale pour débuter en mesure matricielle ou pour des applications de diagnostic rapide. Compacte et économique, cette version allégée de la gamme I-Scan offre l'essentiel de la technologie Tekscan sans compromis sur la précision de la mesure.
Budget maîtrisé : Accédez à la cartofgraphie de pression avec un investissement optimisé.
Mise en œuvre simplifiée : Electronique intuitive et logiciel épuré pour des premières analyses de contact en quelques minutes.
Capteurs I-Scan : Utilise les mêmes modèles ultra-fins (>0,2 mm) et flexibles que le système Evolution.
Idéal pour le contrôle qualité et la maintenance : Validez rapidement les alignements, serrages et parallélismes de composants sur le terrain.
I-Scan Temperature
Cartographie thermique sur film mince
I-Scan Température est une solution unique dédiée à la mesure et à l'analyse des gradients thermiques d'interface. Grâce à un réseau matriciel de capteurs résistifs ultra-fins, il permet de visualiser en temps réel la propagation de la chaleur et d'identifier les points chauds au cœur des assemblages.
Mesure thermique non-intrusive : Le capteur flexible d'à peine 0,2 mm d’épaisseur s'insère facilement dans les espaces les plus restreints sans altérer le contact mécanique.
Gradients couleurs en temps réel : Visualisez et enregistrez la distribution dynamique de la chaleur.
Idéal de la R&D à la maintenance : Traquez les faiblesses thermiques, analysez la propagation de la chaleur (ex: cellules de batteries) et optimisez les procédés de scellage.