Système d'acquisition compact et économique Tekscan I-Scan Lite
Electronique d'acquisition Tekscan standard à connexion USB
Capteurs de pression Tekscan
Tekscan (Industrie)

I-Scan Lite

Partenaire Tekscan Marque Tekscan (Industrie)

La cartographie de pression accessible et essentielle

Le système I-Scan Lite est la solution idéale pour débuter en mesure matricielle ou pour des applications de diagnostic rapide. Compacte et économique, cette version allégée de la gamme I-Scan offre l'essentiel de la technologie Tekscan sans compromis sur la précision de la mesure.

  • Budget maîtrisé : Accédez à la cartofgraphie de pression avec un investissement optimisé.
  • Mise en œuvre simplifiée : Electronique intuitive et logiciel épuré pour des premières analyses de contact en quelques minutes.
  • Capteurs I-Scan : Utilise les mêmes modèles ultra-fins (>0,2 mm) et flexibles que le système Evolution.
  • Idéal pour le contrôle qualité et la maintenance : Validez rapidement les alignements, serrages et parallélismes de composants sur le terrain.
Système d'acquisition compact et économique Tekscan I-Scan Lite
Electronique d'acquisition Tekscan standard à connexion USB
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Chaque situation d'application est unique. Nous configurons votre solution (matériel, logiciel, financement, ...) selon vos besoins et contraintes pour vous garantir un retour sur investissement optimal.

Spécifications & Contextes d'Utilisation

Caractéristiques Techniques

Contenu du kit Logiciel I-Scan Lite + 1 électronique Evolution + 1 Capteur I-Scan
Compatibilité Windows 10/11
Connexion USB
Température de fonctionnement -10 à 60 °C (capteurs standards)
Précision ± 5%
Sortie FSX (format propriétaire)
Informations complémentaires Visualisations cartes et barycentre, graphiques (histogrammes) et mesures temps réel + post-traitement (force, pression, surface totale) - enregistrement de clichés
Options APIs, upgrade I-Scan Evolution
Capteurs de pression Tekscan

Documentation & Téléchargements

Electronique d'acquisition Tekscan standard à connexion USB
Système I-Scan Lite

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Produits Complémentaires

Système de cartographie de pression Tekscan I-Scan Evolution avec électronique USBSpécifications Techniques

I-Scan Evolution

La référence en cartographie de pression dynamique Le système I-Scan Evolution associe une électronique USB évolutive à des capteurs tactiles ultra-fins (< 0,2 mm) pour mesurer et analyser en temps réel la répartition des contraintes entre deux surfaces. Idéal pour les essais mécaniques dynamiques (jusqu'à 100 Hz), il offre une résolution spatiale élevée (248 points/cm²) et une mesure non intrusive, préservant le comportement des interfaces. Polyvalence : Compatible avec 200+ capteurs de pression + 1 capteur de température (jusqu'à 200°C en option). Logiciel intuitif : Visualisation 2D/3D, export CSV, et interface moderne (I-Scan 9) pour une analyse optimisée. Applications : Contrôle qualité, R&D, tests de freinage, ergonomie (sièges, matelas), ou validation de processus industriels.
Système Tekscan I-Scan Temperature cartographie de chaleur d'interfaceSpécifications Techniques

I-Scan Temperature

Cartographie thermique sur film mince I-Scan Température est une solution unique dédiée à la mesure et à l'analyse des gradients thermiques d'interface. Grâce à un réseau matriciel de capteurs résistifs ultra-fins, il permet de visualiser en temps réel la propagation de la chaleur et d'identifier les points chauds au cœur des assemblages. Mesure thermique non-intrusive : Le capteur flexible d'à peine 0,2 mm d’épaisseur s'insère facilement dans les espaces les plus restreints sans altérer le contact mécanique. Gradients couleurs en temps réel : Visualisez et enregistrez la distribution dynamique de la chaleur. Idéal de la R&D à la maintenance : Traquez les faiblesses thermiques, analysez la propagation de la chaleur (ex: cellules de batteries) et optimisez les procédés de scellage.
Électronique haute vitesse Versatek pour capteurs de pression Tekscan I-ScanSpécifications Techniques

I-Scan VersaTek™

Cartographie de pression haute performance Le système I-Scan VersaTek pousse la mesure matricielle à son maximum pour la recherche avancée et l'industrie. Cette architecture offre une vitesse d’acquisition élevée et une connectivité avancée pour saisir les phénomènes dynamiques les plus complexes. Vitesse jusqu'à 20 kHz : Enregistrez les impacts et transferts de charge ultra-rapides en combinant l'électronique VersaTek au capteur 9550. Grands formats sans compromis : Compatible avec les capteurs I-Scan associant haute résolution spatiale et grande surface active. Triggering par connecteurs BNC In/Out : Synchronisez et déclenchez l'acquisition avec vos autres instruments de mesure sur banc d'essais. Mesure non-intrusive : Exploite les capteurs fins et flexibles (>0,2 mm) de Tekscan.
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