Système Tekscan I-Scan Temperature cartographie de chaleur d'interface

Capteur de cartographie de température Tekscan modèle T800 192 points 0-120°C

Electronique d'acquisition Tekscan Evolution pour i-Scan

I-Scan Temperature

Name: I-Scan Temperature
Brand: Tekscan (Industrie)
Availability: OutOfStock

Partenaire Tekscan Marque Tekscan (Industrie)

Cartographie thermique sur film mince

I-Scan Température est une solution unique dédiée à la mesure et à l'analyse des gradients thermiques d'interface. Grâce à un réseau matriciel de capteurs résistifs ultra-fins, il permet de visualiser en temps réel la propagation de la chaleur et d'identifier les points chauds au cœur des assemblages.

Mesure thermique non-intrusive : Le capteur flexible d'à peine 0,2 mm d’épaisseur s'insère facilement dans les espaces les plus restreints sans altérer le contact mécanique.
Gradients couleurs en temps réel : Visualisez et enregistrez la distribution dynamique de la chaleur.
Idéal de la R&D à la maintenance : Traquez les faiblesses thermiques, analysez la propagation de la chaleur (ex: cellules de batteries) et optimisez les procédés de scellage.

Type de produit

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Chaque situation d'application est unique. Nous configurons votre solution (matériel, logiciel, financement, ...) selon vos besoins et contraintes pour vous garantir un retour sur investissement optimal.

Spécifications & Contextes d'Utilisation

Caractéristiques Techniques

Contenu du kit	Logiciel I-Scan + 1 à 16 électroniques Evolution + Capteur(s) T800
Compatibilité	Windows 10/11
Connexion	USB
Plage de mesure	0-120°C
Précision	± 2°C
Échantillonnage	jusqu'à 100 Hz
Sortie	FSX (format propriétaire) + CSV
Informations complémentaires	Visualisations cartes et barycentre, graphiques (histogrammes + courbes temporelles) et mesures temps réel + post-traitement (forces, températures, surfaces totales et par zones) - enregistrement de clichés et séquences dynamiques
Options	APIs, tensions analogiques, ASR (enregistrements séquentiels automatisé), cartographie de pression

Documentation & Téléchargements

Système I-Scan Temperature

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Produits Complémentaires

Spécifications Techniques

I-Scan Evolution

La référence en cartographie de pression dynamique Le système I-Scan Evolution associe une électronique USB évolutive à des capteurs tactiles ultra-fins (< 0,2 mm) pour mesurer et analyser en temps réel la répartition des contraintes entre deux surfaces. Idéal pour les essais mécaniques dynamiques (jusqu'à 100 Hz), il offre une résolution spatiale élevée (248 points/cm²) et une mesure non intrusive, préservant le comportement des interfaces. Polyvalence : Compatible avec 200+ capteurs de pression + 1 capteur de température (jusqu'à 200°C en option). Logiciel intuitif : Visualisation 2D/3D, export CSV, et interface moderne (I-Scan 9) pour une analyse optimisée. Applications : Contrôle qualité, R&D, tests de freinage, ergonomie (sièges, matelas), ou validation de processus industriels.

Spécifications Techniques

I-Scan Lite

La cartographie de pression accessible et essentielle Le système I-Scan Lite est la solution idéale pour débuter en mesure matricielle ou pour des applications de diagnostic rapide. Compacte et économique, cette version allégée de la gamme I-Scan offre l'essentiel de la technologie Tekscan sans compromis sur la précision de la mesure. Budget maîtrisé : Accédez à la cartofgraphie de pression avec un investissement optimisé. Mise en œuvre simplifiée : Electronique intuitive et logiciel épuré pour des premières analyses de contact en quelques minutes. Capteurs I-Scan : Utilise les mêmes modèles ultra-fins (>0,2 mm) et flexibles que le système Evolution. Idéal pour le contrôle qualité et la maintenance : Validez rapidement les alignements, serrages et parallélismes de composants sur le terrain.

Électronique haute vitesse Versatek pour capteurs de pression Tekscan I-Scan

Spécifications Techniques

I-Scan VersaTek™

Cartographie de pression haute performance Le système I-Scan VersaTek pousse la mesure matricielle à son maximum pour la recherche avancée et l'industrie. Cette architecture offre une vitesse d’acquisition élevée et une connectivité avancée pour saisir les phénomènes dynamiques les plus complexes. Vitesse jusqu'à 20 kHz : Enregistrez les impacts et transferts de charge ultra-rapides en combinant l'électronique VersaTek au capteur 9550. Grands formats sans compromis : Compatible avec les capteurs I-Scan associant haute résolution spatiale et grande surface active. Triggering par connecteurs BNC In/Out : Synchronisez et déclenchez l'acquisition avec vos autres instruments de mesure sur banc d'essais. Mesure non-intrusive : Exploite les capteurs fins et flexibles (>0,2 mm) de Tekscan.

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